Schweizer Wissenschaftler verbessern die Messmethode der Rasterkraftmikroskopie

Die Miniaturisierung von elektronischen Bauteilen verlangt nach immer sensibleren Messgeraeten. Wissenschaftler vom Departement Physik der Universitaet Basel haben nun die Messmethode der Rasterkraftmikroskopie weiterentwickelt, um atomare Wechselwirkungskraefte in einer bisher unerreichten Genauigkeit zu messen.

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